尼龍真空包裝袋具體的厚度測(cè)量方法有金相顯微鏡法、掃推電鏡法、多光束干涉法、觸計(jì)法、微量天平法、石英晶體振蕩法、電阻法、電容法、偏振光解析法等等，下面就常用的三種方法進(jìn)行一下簡(jiǎn)單介紹：
1、金相顯微鏡法
金相顯微鏡法是將試樣薄膜后，沿垂直于薄膜表面的方向切斷，將有膜的一面與一塊光潔表面的金屬保護(hù)塊，用膠粘劑粘合或用環(huán)氧樹脂鑲嵌，在薄膜的斷面方向上按金相試樣的制備方法，制成金相試祥。在金相顯微鏡下用測(cè)微計(jì)測(cè)量膜基界面到薄膜表面的距離，就是尼龍真空包裝袋的厚度。金相顯微鏡的放大倍率應(yīng)在500倍以上，膜厚小于1μ時(shí)誤差較大，試樣鑲嵌時(shí)，應(yīng)注意盡可能使薄膜的斷面與膜層垂直，以降低測(cè)量誤差。
2、掃描電鏡法
掃描電鏡法的試樣制備方法，可以用金相顯微鏡法的制樣方法，制成薄膜的斷面金相試祥，也可用鍍膜的試樣，沿垂直于膜面的方向制成斷口試樣，用掃描電子顯微鏡觀察測(cè)置尼龍真空包裝袋的厚度，觀察測(cè)量時(shí)，應(yīng)注意視場(chǎng)的角度應(yīng)垂直薄膜的斷面。
3、觸針法
觸針法又稱表面輪郭儀法。觸針法測(cè)置時(shí)，需通過溶解一部分薄膜成者先遮蔽一部分基片再鍍膜，使基片與膜層形成一個(gè)臺(tái)階，再用輪郭記錄儀兩量臺(tái)階的高度。此高度即為尼龍真空包裝袋的厚度。
影響觸針法測(cè)量精度的因素有：儀器的記錄誤差;儀器垂直放人倍數(shù)選擇太低，誤差增大;觸針測(cè)量力太大，會(huì)劃傷薄膜，造成測(cè)量誤差;觸針的直徑和尼龍真空包裝袋表面的粗鏈度應(yīng)配合選用，以降低測(cè)量誤差，尼龍真空包裝袋表面粗糙時(shí)，應(yīng)選用大直徑觸針，一般要求記錄的基體粗糙度，不應(yīng)超過臺(tái)階高度的另外，臺(tái)階的質(zhì)量、振動(dòng)、塵土，想度的變化等也會(huì)彩響薄膜厚度的測(cè)量精度。
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